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산업 제조 현장에서는 단순 영상 기록을 넘어, 충돌·발화·변형·유동·진동과 같은 과도 현상을 시각화하고 이를 제품 설계, 공정 최적화, 불량 원인 분석, 안전성 검증에 바로 활용할 수 있는 정량 데이터로 연결하는 것이 중요합니다.
| 구분 | 대표 분야 |
|---|---|
| 과학 연구 분야 | 생명과학, 재료역학, 유체역학, 연소·에너지·전력공학, 전기공학, 바이오·의공학, 물리·광전자공학 |
| 산업 제조 분야 | 자동차, 반도체, 배터리, 용접, 기계가공, 직물·옷감, 농업생산, 방위 |
고속 촬영 솔루션이 가장 대표적으로 활용되는 산업 분야 중 하나입니다.


미세 구조와 열·기계 복합 하중 평가가 중요한 분야입니다.


소재 거동과 공정 최적화에 고속 이미징이 많이 활용되는 분야입니다.


고속카메라와 광학 계측이 적극적으로 활용되는 대표 영역입니다.


공정 최적화와 불량 분석을 위한 고속 이미징이 중요한 분야입니다.


| 기술 | 주요 역할 | 대표 분석 항목 |
|---|---|---|
| 고속카메라 | 충돌, 발화, 분출, 진동, 용융, 파손 등 초고속 과도 현상을 시각화 | 충돌 거동, 에어백 전개, 전해질 분출, 아크/화염 전개, 공정 불량, 용융지 진화 |
| sCMOS 카메라 | 고감도 이미징으로 저조도·고온 환경 및 미약한 광학 현상 관찰 | 고온 코팅 손상, 연소 발광, 특수 소재 거동, 미약한 광학 신호 |
| DIC | 비접촉 전면 변형 계측으로 구조와 부품의 실제 거동 평가 | 전변위, 전변형률, 진동 모드, 열응력, 충격 하중 응답, 구조 건전성 |
| PIV | 유동장의 속도 분포를 정량화하여 난류와 경계층 메커니즘 분석 | 속도장, 난류 구조, 경계층 특성, 유동 메커니즘, 전단응력 |
고속카메라, sCMOS 카메라, DIC, PIV와 같은 광학 계측 시스템은 이제 다양한 연구개발 및 산업 제조 현장에서 핵심 분석 도구로 활용되고 있습니다. 이들 솔루션의 강점은 단순한 고속 촬영에 머무르지 않는다는 점입니다. 충돌, 발화, 유동, 변형처럼 짧은 시간 안에 전개되는 현상을 시각적으로 포착하고, 그 결과를 설계 검토와 해석 검증, 공정 개선에 활용할 수 있는 정량 데이터로 확장할 수 있습니다.
이렇게 확보된 계측 결과는 FEA·CFD 해석 결과와 직접 비교·검증하는 데 활용될 수 있으며, 결과적으로 설계와 실제 시험 사이의 차이를 줄이고 보다 신뢰도 높은 개발 프로세스를 구축하는 데 기여합니다.